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28aE 格子欠陥 | |
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1. | 電子照射による欠陥発生の結晶内電子流状態依存(松本健巳。名大工、荒井重雄、武藤俊介・名大理工総研、桐谷道雄・広工大) |
2. | 電子分光・電子顕微鏡法による黒鉛の照射損傷過程の解析(竹内稔・名大工、武藤俊介、田辺哲朗・・名大理工総研) |
3. | 低温電子線照射による金表面でのナノサイズの溝の自己組織化(庭瀬敬右・兵庫教育大、W. Sigle、F. Phillips、A. Seeger・Max-Planck研究所) |
4. | カスケード損傷による自由拡散欠陥(Freely Migrating Defects)の消滅(II)(岩瀬彰宏・原研先端研、L. E. Rehn、P. M. Baldo、L. Funk・ANL) |
5. | FCC金属中の欠陥集合体のX線散漫散乱(大塚英男、前田裕司、松本徳真、熊野秀樹、須貝宏行、加藤輝雄、本橋治彦、知見康弘、岩瀬彰宏・原研、早乙女隆雄・名大工、山川浩二・広大工) |
6. | 低速陽電子ビームによる金属多層膜Fe/Hfの固相反応の研究(大滝英一、大泉知也、岩本哲、金沢育三・東学大、小森文夫・東大物性研、伊藤泰男・東大原総セ) |
7. | Ni中の空孔集合体における陽電子寿命(上之康一郎、大村雅一・九大総理工、堤哲男、竹中稔、安部博信、蔵元英一・九大応力研) |
8. | 中性子照射されたNi合金中のボイド表面でのポジトロニウム形成(福島博、下村義治・広大工) |
9. | 2K以下での純金中の格子間原子及びその集合体の移動度(杉尾健次郎、林原俊治、ひも村義治・広大工) |
10. | 純銅中の格子間原子集合体の動的挙動(趙平、下村義治・広大工) |
11. | 高温で中性子照射した純銅での損傷組織発達過程(下村義治、向田一郎、西口理恵子・広大工) |
12. | 鉄中の刃状転位および転位ループと格子間原子の相互作用の計算機シミュレーション(小柳万博・九大総理工、堤哲男、大沢一人、蔵元英一・九大応力研) |
13. | 刃状転位と格子間原子集合体の相互作用エネルギー(蔵元英一、堤哲男、佃昇・九大応力研、小柳万博・九大総理工) |
28pE 格子欠陥 | |
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1. | 結晶へのイオン注入の横方向分布(中川幸子、斎藤博・岡山理大理、L . Thome・CSNSM) |
2. | パラジゥウム中の水素の拡散-水素濃度依存-(山川浩一・広大工、前田裕司・原研) |
3. | Mo単結晶(111, 110, 100)界面における水素の熱力学的性質(原田修治・新潟大工) |
4. | シリコン添加されたアルミニウムに於ける水素の熱的挙動III(小倉政彦、山地宣介、樋口哲也、今井誠、伊藤秋男、今西信嗣・京大院工) |
5. | 超高純度Al単結晶における非線形電気伝導(上田善武・広大理、橋本英二・広大放射光) |
6. | Ti-4at%Al合金におけるa->a2+g相分離の特徴(谷村誠、井上靖秀・日産アーク、青山敦司、小山泰正・早大理工) |
7. | ガスデポ十ション法で作製した金ナノ結晶材の力学的性質II(境誠司、谷本久典、藤田浩志、水谷博・筑波大物質工) |
8. | GGA-FPKKRグリーン関数法によるfcc金属の格子定数と弾性定数(安里光裕、星野敏春、浅田寿生・静大工、R. Zeller、P. H. Dederichs・KFA - IFF Juelich) |
9. | GGA-FLAPW法によるfcc金属の格子定数と弾性定数:GGA-FPKKRグリーン関数法との比較(片山竜一、星野敏春、浅田寿生・静大工) |
10. | GGA-FPKKRグリーン関数法によるfcc金属の空格子点形成エネルギー(星野敏春、安里光裕、浅田寿生・静大工、R. Zeller、P. H. Dederichs・KFA - IFFJuelich) |
11. | Pd、Agのへき開・すべりにおけるsp電子とd電子の役割(谷森奏一郎、嶋村修二・山口大工) |
12. | O(N)非直交基底TBMD法による半導体結晶中の転位の計算II(神藤欣一・東工大総合理工、M. Menon、K. R. Subbaswamy・ケンタッキー大学物理) |
13. | 連続変位クラスター変分法による格子欠陥(クラック、転位)の計算II(菊池良一・UCLA、神藤欣一・東工大総合理工) |
14. | Si中線上欠陥の電子状態(小山紀久、太田英二・慶大理工、竹田京三郎・早大理工、白石賢二・NTT基礎研) |
15. | SiCの結晶粒界の第一原理計算II(香山正憲・大工研) |
29aE 格子欠陥 | |
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1. | 運動する転位に対するflexible boundary condition(大沢一人、蔵元英一・九大応力研) |
2. | FCC金属の転位ジョグによるキンク対形成と低温塑性(奥田重雄・茨城大工) |
3. | 転位がピン止め原子からトンネル離脱する領域での内部摩擦測定(小杉俊男・広大理、D. McKay、A. V. Granato・イリノイ大) |
4. | Blaha効果測定中の転位運動(大角富康、柴田昇・金沢大工) |
5. | シリコン中の転位運動に及ぼす水素プラズマ照射効果(山下善文、条辺文彦、箱田善弘、井上景介、上浦洋一、橋本文雄・岡山大工) |
6. | Plan-view HREM法による転位線の原子像観察の分解能(井上雅史、前田康二・東大工、鈴木邦夫・東大物性研) |
7. | 静水圧変化による氷結晶中の転位の上昇運動(森川公彦、堀彰、本堂武夫・北大低温研、岡田康雄・北大工) |
8. | N-メチルウレア結晶の転位の特性(清水幹郎、井上恵一・横浜市大総合理、橘勝、小島謙一・横浜市大理) |
9. | C60結晶の光照射硬化(佐久間裕子・横浜市大総合理、橘勝、小島謙一・横浜市大理、菊池耕一、阿知波洋次・都立文理) |
10. | Glifalcoポテンシャルを用いたC60結晶中の転位の計算機シミュレーション(玉木滋・横浜市大総文理、井手直樹・名工大工、岡田勇、小島謙一・横浜市大理) |
11. | GeSi の強度特性(III)(米永一郎・東北大金研) |
12. | InPの塑性変形機構(鈴木敬愛、樽稔樹・東大生研) |
13. | SnSb単結晶の塑性I(徳岡輝和、竹内伸・東理大基礎工、鈴木敬愛・東大生研) |
29pE 格子欠陥シンポジウム 材料界面研究の新展開 | |
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1. | 結晶粒界と異種物質界面の原子・電子構造(市野瀬英喜・東大工) |
2. | 材料界面のEELSとその理論解析(田中功・京大エネ研) |
3. | 意志物質界面の原子構造と方位予測(幾原雄一・東大工) |
4. | 原子サイズ接合による界面形成と原子直視型観察(木塚徳志・名大工) |
5. | 界面の摩擦のメカニズム(平野元久・NTT入力システム研) |
6. | 直接接合法による半導体素子の界面(森一男、徳留圭一、菅生繁男・NECエレ研) |
7. | プラズマCVD法による微結晶シリコン薄膜作成における界面制御(近藤道雄、松田彰久・電総研) |
8. | セラミックスの超塑性幻想と粒界ダイナミックス(若井史博・名工研、科技団) |
30pE 格子欠陥 | |
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1. | KI結晶中の正孔を伴った陽イオン空格子の移動(片岡球子、原見忠彦・立命大理工) |
2. | Ca10xTxTiO2及びCaTi1-xNbxO3単結晶中のキャリア補償と生成(植田和茂、柳博、川副博司・東工大応セラ研、植田尚之、細野秀雄・分子研) |
3. | 高圧合成ダイヤモンドにおける発光スペクトルの温度依存性(渡邊賢司、神田久生、佐藤洋一郎・無機材研) |
4. | Nutation NMRによる不純物ドープされたGaAsについての研究(竹内誉羽、中村弘輝、喜多英二、田崎明・筑波大物質工、恵良田知樹・北大工) |
5. | Si中のsplit-<100> interstitial移動の図的模型(吉田正幸・吉田半導体研、鶴野玲治・九州芸工大、友影肇・福岡大工、高橋学・福工大) |
6. | シリコン単結晶育成時の点欠陥の挙動(江部忠之・信越半導体磯部研) |
7. | B dope Cz-Siの電子線照射欠陥(堀史説、玉野拓也、大嶋隆一郎・阪府立先端研、久松正・NASDA) |
8. | Si-Ge混晶における電子線照射欠陥(山崎順・阪大基礎工、竹田精治・阪大理、米永一郎・東北大金研) |
9. | 不純物をイオン注入したSiのPAC(花田黎明・東北大金研) |
10. | Asを高ドープしたSi(001)の表面構造(清水哲夫、徳本洋志・JRCAT-融合研、安藤淳・電総研) |
11. | 半導体中の微小金属析出物のEELS測定(河野日出夫、竹田精治、平田光兒・阪大理) |
12. | 緩和したSiGe/Siエピタキシャル膜の断面STM観察(目良裕、前田康二・東大工) |
13. | 強力X線照射された非晶質シリコンI. 平均構造の変化(武藤俊介・名大理工総研、Lei Wang、Kin man Yu、W. Walukieeicz・Lawrence Berkeley Lab.、S.McCormick、J. R. Abelson・Univ. of Illinois) |
14. | 強力X線照射された非晶質シリコンII. 再結晶化挙動(小林由美子、武藤俊介・名大理工総研、Lei Wang、Kin man Yu、W. Walukieeicz・Lawrence Berkeley Lab.、S. McCormick、J. R. Abelson・Univ. of Illinois) |
15. | 石英ガラス中の照射欠陥による陽電子捕獲(長谷川雅幸、真安正明、田畑誠、唐政、山口貞衛・東北大金研、藤波真紀・新日鐵先端研、伊藤泰男・東大原総センター) |
16. | SiO2ガラスの遠赤外吸収と水酸基の分布(押川真一、大坂俊明・東北大科研) |
31aE 格子欠陥、半導体合同 | |
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1. | 希土類系酸硫化物中の点欠陥の電子構造計算(三上昌義・三菱化学横総研、押山淳・筑波大理) |
2. | 第一原理計算によるSi中のB12クラスターの研究III(山内淳・東芝基礎研、青木伸俊、水島一郎・東芝ME研) |
3. | Si中の負ミュオンが形成する擬Alアクセプター(m-Si)の構造(門野良典、P.L. Pratt、永嶺謙忠・理研、T. M. Briere・東大物性研、T. P. das・ニューヨーク州立大) |
4. | GaAs中のハロゲン原子の拡散過程(大野隆央、佐々木泰造・金材技研、田口明仁・NTT基礎研) |
5. | 光励起半絶縁性GaAs中の浅いドナーのダイナミックスIII(藤井研一、細川誠、大山忠司・阪大理) |
6. | Si-Ge混晶中の金及び鉄のエネルギーレベル(本田達也、関口隆史、末澤正志。東北大金研) |
7. | p型Si中の鉄の再結合促進原子移動(高橋亨、末澤正志・東北大金研) |
8. | 半導体SiC中の電子線照射誘起欠陥の研究(III)(河裾厚男、伊藤久義、大島武、安部功二、岡田漱平・原研高崎) |
9. | ダイヤモンドの陽電子消滅2次元角相関(千葉利信、赤羽隆史・無機材研、長谷川雅幸、唐政・東北大金研、斎藤峯雄・NEC、角谷均・住友電工) |
10. | Positron 2D-ACARSpectroscopy for vacancies in Si and Diamond(唐政、長谷川雅幸、李志強、川添良幸・東北大金研、千葉利信・無機材研、斎藤峯雄・NEC情報システムズ、角谷均・住友電工) |
11. | Si中の水素-炭素複合体I(安定性)(橋本文雄、上浦洋一、大山重紀、山下善文・岡山大理) |
12. | Si中の水素-炭素複合体II(一軸性応力効果)(上浦洋一、石賀展昭、山下善文、橋本文雄・岡山大理) |
13. | Si結晶中の不純物酸素による30cm-1吸収帯のピーク強度比(理論と実験の比較)(金田寛・富士通デバイス開発部) |
14. | 超高真空電顕法によるシリコン薄膜の電子線照射効果の研究(古戸聖浩・阪大基礎工、竹田精治・阪大理、市橋鋭也、飯島澄男・NEC基礎研) |